EC2150
誰(shuí)でも簡(jiǎn)単に使用できる高精度な真円度?円筒形狀測(cè)定機(jī)です。
測(cè)定者の負(fù)擔(dān)軽減を考慮したデザインで、設(shè)置スペースを30%削減しました。（當(dāng)社比）
-
自動(dòng)心出し/自動(dòng)傾斜機(jī)能つき高精度回転テーブル
-
解析部は、マルチウィンドウによるデータシート表示が可能
-
ジョイスティック、オートストップスイッチにより簡(jiǎn)単操作
-
PCラックは不要で、設(shè)置も省スペース
-
圧力計(jì)を前面に配置し空気圧の確認(rèn)が容易
-
フレキシブルモニターアームにより、モニターを見(jiàn)やすい位置に自由に移動(dòng)可能
|
機(jī)構(gòu)?方式
|
多孔質(zhì)靜圧空気軸受?テーブル回転式
|
|
回転精度
|
（0.02+0.00032H）μm
H：テーブル面上からの高さ（mm）
|
|
*大測(cè)定徑
|
內(nèi)外徑共 φ368mm
|
|
積載質(zhì)量
|
30kg
|
|
上下移動(dòng)量
|
300mm（bスタイラスアーム使用時(shí)）
|
株式會(huì)社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三大部門。其中測(cè)定部門為具代表性單位且在日本精密測(cè)定業(yè)占有一席無(wú)法被取代的地位。
設(shè)備特點(diǎn)：
KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測(cè)量的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200A 能**可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。
KOSAKA小坂粗糙度儀，粗度計(jì)，粗度儀
KOSAKA小坂粗糙度輪廓一體機(jī)
KOSAKA小壇輪廓儀
KOSAKA小坂臺(tái)階儀，膜厚儀，薄膜測(cè)厚儀KOSAKA小坂圓度儀，真圓度儀，圓柱度儀
KOSAKA小坂測(cè)量?jī)x配件
KOSAKA小坂非接觸式表面形貌測(cè)量裝置
KOSAKA小坂微細(xì)深孔測(cè)量裝置
KOSAKA小坂晶圓檢測(cè)裝置
KOSAKA小坂關(guān)節(jié)管測(cè)量?jī)x
KOSAKA小坂探針卡檢測(cè)設(shè)備
KOSAKA小坂高精度貼片機(jī)
KOSAKA小坂傳感器
表面粗度測(cè)定機(jī):
SE300,SE500,SE600,SE610,SE600K,SE600K31，SE700.SE4000.
表面粗度,輪廓形狀測(cè)定機(jī):
SEF580-G18,SEF580--G18D,SEF580-M50,SEF580-M58,SEF580-M58D.SEF680.SEF680K.
細(xì)微形狀測(cè)走機(jī):
ET200,ET4000,ET10000
表面形狀,粗度測(cè)定機(jī):
DSF600.DSF900.
輪廓形狀測(cè)定機(jī):
EF550-G18,EF550-G18D,EF550-M50,EF550-M58,EF550-M58D,EF650,EF650D,REF100,
真圓度,圓頭形狀測(cè)定機(jī):
EC600,EC1550H,EC1650H,EC1850H,EC2150,EC2500H,EC2700H,EC2500HF,EC2700
EC3300P，EC3600A,EC3600B,EC3600CEC4100H，EC5100H,EC6100,