SmartSPM
SmartSPM掃描探針顯微鏡是**個100%自動化的系統,它為所有AFM和STM模式下的納米級先進材料研究提供了快速、計量和高分辨率測量的**技術。SmartSPM可以從達到100μm范圍掃描到原子級分辨率掃描。它能夠與光學光譜(SNOM、Raman、光致發光和TERS/SERS技術)無縫耦合。
操作完全自動化
全自動激光-光電二極管準直
更換針尖簡單方便
豐富的各種測量模式
系統調試速度快
分辨率/穩定性/**度
閉環平板掃描器即可實現100μm大范圍掃描,也可實現分子/原子分辨率掃描。
標準測量無需隔振系統。
低噪音傳感器設計保證了在分子分辨率成像過程中也能打開閉環,獲得準確的結果。
快速掃描
采用業界*高的高共振頻率掃描器(XY>7kHz和 Z>15kHz),優化的掃描器控制算法可以輕松實現快速掃描。
標配幾乎所有SPM模式,無需添加任何附件和額外成本
包括開爾文探針顯微鏡,壓電響應力顯微鏡,納米蝕刻和納米操縱。
輕松升級到納米拉曼光譜儀
SmartSPM無論從軟件設計到硬件設計都能與拉曼系統進行無縫的耦合。